ГОСТ РВ 20.57.412-97 Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические военного назначения. Требования к системе качества 2019 год. Последняя редакция
описание
звоните нам с 9:00 до 19:00
 

ГОСТ РВ 20.57.412-97 Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические военного назначения. Требования к системе качества 2019 год. Последняя редакция

Оценки: 4.8 5 20
от

Хорошо и качественно
Количество:
  
-
+
Цена: 210 
P

В корзину
В наличии
Артикул: 00-01023720
Место издания: Москва
Год: 2019
Формат: А4 (210x290 мм)
Переплет: Мягкая обложка
Страниц: 46

Cкачать/полистать/читать on-line
Показать ▼

Развернуть ▼

Документ продается с актуализацией на дату продажи!
ГОСТ РВ 20.57.412-97 "Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические военного назначения. Требования к системе качества" принят и введен в действие Постановлением Госстандарта России от 18 сентября 1997 г. №322
Настоящий стандарт устанавливает порядок создания и функционирования систем качества на предприятиях-разработчиках и изготовителях изделий электронной техники, квантовой электроники и электротехнических военного назначения, а также общие требования к элементам системы качества.
Положениями настоящего стандарта следует руководствоваться при организации и проведении работ по обеспечению, управлению и повышению качества изделий на стадиях их разработки и производства, а также при проведении сертификации систем качества и производств предприятий в соответствии с ГОСТ РВ 20.57.411.

Содержание
1. Область применения
2. Нормативные ссылки
3. Определения и сокращения
4. Общие положения
5. Требования к системе качества на стадии разработки
6. Требования к системе качества на стадии производства
7. Дополнительные требования к системе качества изделий категории качества «ОС»
Приложение А Рекомендации по составу и содержанию документации системы качества
Приложение Б Форма и пример изложения ПОК (ППК)
Приложение В Форма карты на дефектное изделие
Приложение Г Содержание программы проведения анализа дефектных изделий
Приложение Д Показатели качества изготовления, подлежащие оценке при управлении технологическими процессами
Приложение Е Методы оценки показателей настроенности, точности и стабильности технологических процессов
Приложение Ж Библиография
от Аноним

Хорошо и качественно

Пожалуйста, оставьте отзыв на товар.

Что бы оставить отзыв на товар Вам необходимо войти или зарегистрироваться
Все права защищены и охраняются законом. © 2006 - 2019 CENTRMAG
Рейтинг@Mail.ru