Основы технической диагностики Сапожников В.В.
описание
звоните нам с 9:00 до 19:00
 

Основы технической диагностики

Количество:
  
-
+
Цена: 202 
P
В корзину
В наличии
Артикул: 00001761
Автор: Сапожников В.В.
Издательство: УМЦ ЖДТ (все книги издательства)
ISBN: 5-89035-123-0
Год: 2004
Переплет: Твердый переплет
Страниц: 318

Cкачать/полистать/читать on-line
Показать ▼

Развернуть ▼


Изложены основные понятия и методы технической диагностики. Описаны модели неисправностей логических схем. Рассмотрены методы построения тестов для комбинационных схем и схем с памятью. Изложена теория контроля контактных схем. Даны основные структуры функционального диагностирования микропроцессорных систем и систем непрерывного типа.
Учебное пособие предназначено для студентов вузов железнодорожного транспорта по специальности Автоматика, телемеханика и связь на железнодорожном транспорте и может быть полезно аспирантам и инженерно-техническим работникам.


ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ

Глава 1. ОСНОВЫ ТЕОРИИ ТЕХНИЧЕСКОЙ ДИАГНОСТИКИ
1.1. Основные понятия и определения
1.2. Задачи технической диагностики
1.3. Тесты диагностирования
1.4. Математические модели объектов диагноза

Глава 2. СИСТЕМЫ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ
2.1. Функциональные схемы систем диагностирования
2.2. Функциональное диагностирование
2.3. Тестовое диагностирование
2.4. Алгоритмы диагностирования и методы их построения

Глава 3. ТЕОРИЯ КОНТРОЛЯ КОНТАКТНЫХ СХЕМ
3.1. Представление контактных схем
3.2. Неисправности в контактных схемах
3.3. Вычисление проверяющих функций для неисправности контактов
3.4. Вычисление проверяющих функций для кратных неисправностей
3.5. Отношения между неисправностями в контактных схемах
3.6. Формирование контрольных списков неисправностей контактов
3.7. Методы построения одиночных тестов контактных схем

Глава 4. ДИАГНОСТИРОВАНИЕ ЛОГИЧЕСКИХ СХЕМ
НА ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТАХ
4.1. Модели неисправностей логических схем
4.2. Тесты логических элементов
4.3. Методы построения тестов для комбинационных схем
4.3.1. Метод таблицы функций неисправностей
4.3.2. Метод существенных путей
4.3.3. D-алгоритм
4.3.4. Метод эквивалентной нормальной формы
4.3.5. Булево дифференцирование
4.4. Обнаружение коротких замыканий
4.5. Контроль исправности электрического монтажа
4.6. Обнаружение неисправностей типа «временная задержка»
4.7. Вероятностное тестирование

Глава 5. ДИАГНОСТИРОВАНИЕ ДИСКРЕТНЫХ УСТРОЙСТВ С ПАМЯТЬЮ
5.1. Построение проверяющих и диагностических тестов
5.2. Сигнатурный анализ
5.3. Методы сканирования

Глава 6. ФУНКЦИОНАЛЬНОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ ДИСКРЕТНЫХ СИСТЕМ
6.1. Структурные схемы функционального диагностирования
комбинационных схем
6.2. Метод дублирования
6.3. Метод паритета
6.4. Контроль по коду с постоянным весом
6.5. Контроль по коду с суммированием
6.6. Метод логического дополнения
6.7. Контроль на основе свойств самодвойственных функций
6.8. Обнаружение неисправностей в схемах с памятью

Глава 7. ДИАГНОСТИРОВАНИЕ МИКРОПРОЦЕССОРНЫХ СИСТЕМ
7.1. Схемы организации тестового диагностирования микропроцессорных систем
7.2. Тестирование элементов микропроцессорных систем
7.3. Тестирование программ
7.4. Средства функционального диагностирования микропроцессорных систем
7.5. Контроль микропроцессорных систем железнодорожной автоматики

Глава 8. ОСОБЕННОСТИ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ СИСТЕМ НЕПРЕРЫВНОГО ТИПА
8.1. Постановка задачи диагностирования
8.2. Метод Байеса
8.3. Логическая модель непрерывной системы
СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ


Пожалуйста, оставьте отзыв на товар.

Что бы оставить отзыв на товар Вам необходимо войти или зарегистрироваться
Все права защищены и охраняются законом. © 2006 - 2018 CENTRMAG
Рейтинг@Mail.ru