Измерение параметров цифровых интегральных микросхем

Артикул:00-01025616
Автор: Д.Ю.Эйдукас, Б.В.Орлов, Л.М.Попель и др.
Обложка: Твердая обложка
Издательство: Радио и связь (все книги издательства)
Город: Москва
Страниц: 368
Формат: 84х108 1/32
Год: 1982
Вес: 593 г
Серия: Измерения в электронике (все книги серии)

Описание Отзывы

Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем (ИС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля.
Для инженерно-технических работников – разработчиков цифровых ИС и аппаратуры на их основе, а также для специалистов по метрологическому обеспечению выходного и входного контроля ИС.

Оглавление
Предисловие
Глава 1. Цифровые интегральные микросхемы
1.1. Логические элементы цифровых ПС
1.2. Полупроводниковые запоминающие устройства
1.3. Микропроцессорные схемы
1.4. Матричные БИС
Выводы
Глава 2. Статические и динамические параметры интегральных микросхем и методы их измерения
2.1. Общие сведения
2.2. Статические параметры ИС
2.3. Динамические параметры ИС
2.4. Функционально-параметрический контроль ИС
Выводы
Глава 3. Функциональный контроль интегральных микросхем
3.1. Общие сведения
3.2. Методы функционального контроля
3.3. Способы построения алгоритмических функциональных тестов ОЗУ
3.4. Особенности функционального контроля ЗУ с преимущественным считыванием информации
3.5. Методы построения функциональных тестов цифровых ИС произвольной логики
3.6. Функциональный контроль БИС сравнением с кодовым эталоном
Выводы
Глава 4. Средства измерения и контроля статических параметров цифровых интегральных микросхем
4.1. Состав и характеристики
4.2. Программируемые источники напряжения и тока
4.3. Измерительные преобразователи напряжения и тока
4.4. Измерительные источники-преобразователи напряжения и тока
4.5. Коммутатор
4.6. Средства сопряжения
4.7. Обеспечение электромагнитной совместимости средств измерения и контроля
4.8. Методы определения характеристик
Выводы
Глава 5. Средства измерения и контроля динамических параметров интегральных микросхем
5.1. Принципы построения ИИС
5.2. Погрешности измерения динамических параметров быстродействующих ИС
5.3. Анализ искажений импульсных сигналов в измерительном тракте ИИС
5.4. Анализ выходного сигнала ИС
5.5. Анализ искажений выходного сигнала ИС
5.6. Управляемые источники сигналов ИИС
5.7. Структурные схемы ИИС со стробоскопическим методом преобразования
5.8. Системы контроля
Выводы
Глава 6. Средства функционального контроля интегральных микросхем
6.1. Построение средств функционального контроля методом сравнения с эталоном
6.2. Построение средств функционального контроля с алгоритмической генерацией сигналов
6.3. Универсальные ИИС для функционального и параметрического контроля БИС
6.4. Блок электроники выводов
6.5. Приборы функционального контроля для исследований
Выводы
Глава 7. Программное обеспечение систем контроля
7.1. Эволюция программного обеспечения систем контроля
7.2. Установки контроля для ИС малой степени интеграции
7.3. Программное обеспечение многопостовых ИИС
7.4. Программное обеспечение систем контроля с ЭВМ
7.5. Программное, обеспечение сложных систем контроля управляемых ЭВМ с ДОС
7.6. Распределенные системы контроля с двухуровневым управлением
7.7. Языки описания процесса контроля
Выводы
Глава 8. Производственные системы измерения и контроля интегральных микросхем
8.1. Введение
8.2. Многопостовые производственные ИИС
8.3. Применение ЭВМ в ИИС
8.4. Оценка производительности ИИС
Выводы
Заключение
Список литературы
Приложение

Оставьте отзыв о товаре