- Артикул:00440339
- Автор: В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. А
- ISBN: 978-5-9765-0207-9
- Издательство: Флинта (все книги издательства)
- Год: 2007
Развернуть ▼
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.
Рекомендуем
