Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей. Гриф УМО ВУЗов России
от 
Количество:
-
+
Цена: 186
В наличии
P
В корзину
Автор: В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. А
Издательство: Флинта (все книги издательства)
ISBN: 978-5-9765-0207-9
Год: 2007
Развернуть ▼
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.