- Артикул:00-01117225
- Автор: Уильямс Г. Б.
- ISBN: 5-283-02484-9
- Обложка: Мягкая обложка
- Издательство: Энергоатомиздат (все книги издательства)
- Город: Москва
- Страниц: 253
- Формат: 84х108 1/32
- Год: 1988
- Вес: 317 г
Рассмотрены практические вопросы отладки микропроцессорных систем и применяемое для этого контрольно-измерительное оборудование. Приведено описание логических и сигнатурных анализаторов. Показаны некоторые схемотехнические решения и программное обеспечение, необходимые при отладке микросистем.
Для инженерно-технических работников в области вычислительной техники и автоматики, занятых проектированием, производством и эксплуатацией микросистем.
Содержание
Предисловие к русскому изданию
Предисловие
Список условных обозначений
1. Введение в микропроцессорные системы
1.1. Компьютер
1.2. Системы с шинной структурой
1.3. Системы с отображением ввода-вывода на память
1.4. Тристабильные схемы
1.5. Дешифрирование адреса
1.6. Микроконтроллер
1.7. Уровни программирования
2. Проблемы тестирования систем
2.1. Аппаратные средства или программное обеспечение?
2.2. Передачи параллельных кодов последовательно во времени
2.3. Мультиплексирование шины
2.4. Проблемы тестирования микросхем
2.5. Системное ядро
2.6. Тестирование ЦП
2.7. Тестирование ПЗУ
2.8. Тестирование ЗУПВ
2.9. Тестирование ввода-вывода
2.10. Некоторые общесистемные проблемы
2.10.1. Блоки электропитания
2.10.2. Системная синхронизация
2.10.3. Схемы сброса
2.10.4. Прерывания
2.10.5. Микросхемы памяти
2.10.6. Затухание сигналов
3. Принципы тестирования систем
3.1. Программы самоконтроля
3.2. Существует ли отказ в действительности?
3.3. Срок службы интегральных схем
3.4. Тестирование нагрузками
3.4.1. Механическая нагрузка
3.4.2. Температурная нагрузка
3.4.3. Электрическая нагрузка
3.5. Локализация отказов
3.6. Дерево поиска неисправностей
4. Применение обычных приборов
4.1. Мультиметры
4.2. Частотомеры
4.3. Осциллограф
4.4. Ограниченные возможности обычных приборов
5. Ручные инструментальные средства
5.1. Логические пробники
5.1.1. Промышленные логические пробники
5.1.2. Использование логического пробника
5.2. Логические пульсаторы
5.2.1. Использование логического пульсатора
5.3. Тестирование "стимул-реакция" с помощью пульсатора и пробника
5.4. Индикатор тока
5.4.1. Использование индикатора тока
5.4.2. Тестирование "стимул-реакция" с помощью логического пульсатора и индикатора тока
5.5. Логические компараторы
5.6. Ограниченные возможности ручных инструментальных средств
в. Логические анализаторы
6.1. Анализаторы логических состояний
6.2. Анализаторы временных диаграмм.
6.3. Режимы индикации
6.3.1. Режим карты
6.3.2. Двоичный и группированный двоичный режим
6.3.3. Шестнадцатеричный формат
6.3.4. Дисассемблерный формат
6.3.5. Индикация временных диаграмм
6.3.6. Форматы специального кодирования
6.4. Дополнительные возможности логических анализаторов
6.4.1. Подсчет событий
6.4.2. Измерения временных интервалов в анализаторе логических состояний
6.4.3. Диапазоны запуска и условия запуска
6.4.4. Предзапуск н постзапуск
6.4.5. Модули персонификации
6.4.6. Возможности анализаторов временных диаграмм
6.4.7. Принадлежности
7. Сигнатурный анализ
7.1 Природа цифровых сигналов
7.2. Счет переходов
7.3. Вероятность успеха при счете переходов
7.4. Коды циклического избыточного контроля
7.5. Сигнатурный анализ
7.6. Вероятность успеха в сигнатурном анализе
7.6.1. Обнаружение ошибки при сигнатурном анализе
7.7. Простой сигнатурный анализатор
7.8. Тестирование в режиме свободного счета с использованием сигнатурного анализатора
7.9. Тестирование ПЗУ в режиме свободного счета
7.10. Тест-циклы сигнатурного анализа
7.11. Встроенные средства для сигнатурного анализа
7.12, Ограничения сигнатурного анализа
7.13. Сигнатурный анализ как общий способ тестирования
8. Эмуляция
8.1. Системы проектирования
8.1.1. Редактор
8.1.2. Менеджер файлов
8.1.3. Редактор связей/загрузчик
8.1.4. Драйверы устройств ввода-вывода
8.1.5. Ассемблеры
8.1.6. Компиляторы
8.1.7. Менеджер памяти
8.1.8. Отладчик
8.1.9. Анализатор реального времени
8.1.10. Программатор ЭИПЗУ
8.1.11. Внутрисхемные эмуляторы
8.2. Тестирование систем с применением системы проектирования
8.3. Автономные эмуляторы
9. Программы самоконтроля и диагностики
9.1. Программы самоконтроля
9.1.1. Тестирование ПЗУ
9.1.2. Тестирование ЗУПВ
9.2. Диагностические тесты
9.2.1. Простое тестирование ввода-вывода
9.2.2. Инициирование диагностических тестов
10. Тестирование функций ввода-вывода
10.1 Пример функционального тестирования подсистемы
10.2. Тестирование последовательных линий связи
10.2.1. Протоколы последовательной передачи
10.2.2. Скорость передачи
10.2.3. Асинхронный связной интерфейс
10.3. Контроль приборной шины IEEE-488
10.3.1. Структура универсальной интерфейсной шины
10.3.2. Пример передачи по шине
10.3.3. Анализ сигналов универсальной интерфейсной шины
Приложение
Список литературы



