- Артикул:00-01115969
- Автор: под ред. Ф. Вейнберга
- Обложка: Твердая обложка
- Издательство: МИР (все книги издательства)
- Город: Москва
- Страниц: 432
- Формат: 60х90 1/16
- Год: 1973
- Вес: 615 г
Развернуть ▼
Репринтное издание
Данная книга является первой частью коллективной монографии «Приборы и методы физического металловедения. Она включает пять глав, посвященных различным методам измерения температуры, вопросам выращивания монокристаллов и приготовления сплавов, рассмотрению металлографических методов исследования, теории и практике количественной металлографии. Отдельная глава знакомит читателя с приборами и методами рентгеноструктурного анализа.
Монография написана известными специалистами по каждому из перечисленных вопросов, имеющими большой практический опыт. Изложение ведется достаточно строго, на современном научном уровне. Авторы стремятся не только познакомить читателя с теоретическими положениями, лежащими в основе рассматриваемых методов, но главным образом подготовить его к практической работе. В связи с этим очень большое внимание уделяется описанию принципиальных схем приборов и методов исследования и примерам их применения материаловедческой практике. В книге имеется большое количество иллюстраций.
Монография предназначена для читателей, специализирующихся в области материаловедения. Это весьма ценное пособие для работников заводских лабораторий, научно-исследовательских институтов, преподавателей, аспирантов и студентов соответствующих специальностей.
Содержание
Предисловие к русскому изданию
Предисловие
Глава 1. Измерение температуры. Р. Бедфорд, Т. М. Дофине, X. Престон-Томас
I. Введение
II. Жидкостные термометры
III. Термоэлектрические термометры
А. Введение
Б. Основные закономерности
В. Градуировка термопар
Г. Погрешности при измерении температуры термопарами
Д. Типичные термопары
Е. Защита термопар
Ж. Удлинительные провода
3. Конструкция термопар
И. Электрические цепи с термопарами
IV. Термометры сопротивления
А. Платиновые термометры сопротивления
Б. Градуировка платиновых термометров сопротивления
В. Расчет температуры по показаниям платиновых термометров сопротивления
Г. Измерительные цепи с платиновыми термометрами сопротивления
Д. Другие металлические термометры сопротивления
В. Полупроводниковые термометры сопротивления
Ж. Угольные термометры сопротивления
3. Измерительные цепи с полупроводниковыми и угольными термометрами
V. Измерения температуры по излучению (оптическая термометрия)
А. Введение
Б. Яркостная пирометрия
В. Радиационная пирометрия
Г. Цветовая пирометрия
VI. Газовая термометрия
А. Термометр постоянного объема
Б. Дифференциальная газовая термометрия
В. Термометрия, основанная на измерении давления паров
Глава 2. Выращивание кристаллов и приготовление сплавов
Ф. Вейнберг, Дж. Т. Джабб
I. Введение
II. Методы выращивания монокристаллов
А. Материалы с низкой температурой плавления
Б. Материалы с более высокими температурами плавления
III. Несовершенства в кристаллах, выращенных из расплава
А. Полосчатая субструктура
IV. Выращивание кристаллов сплавов
А. Микросегрегация
Б. Макросегрегация
В. Дендритная сегрегация
Г. Получение кристаллов с помощью литья
V. Выращивание кристаллов путем деформационного отжига
VI. Некоторые методы препарирования и анализа монокристаллов
VII. Зонная плавка
VIII. Приготовление сплавов
А. Плавка во взвешенном состоянии (левитационная плавка)
Б. Метод сверхбыстрой кристаллизации
В. Приготовление сплавов литьем
IX. Осаждение из газовой фазы
А. Испарение
Б. Катодное распыление
В. Химическое разложение
Глава 3. Металлографические методы исследования
X. Э. Кнехтель, У. Ф. Киндл, Дж. Л. Макколл, Р. Д. Буххейт
I. Введение
II. Изготовление образцов для металлографического исследования
А. Вырезка образцов
Б. Закрепление (монтаж) образцов
В. Шлифовка
Г. Полировка
Д. Травление
III. Исследование образцов
А. Микроскопы
Б. Источники света
В. Специальные методы микроскопического исследования
IV. Фотография
V. Специальные методы металлографического исследования
А. Высокотемпературная металлография
Б. Низкотемпературная металлография
В. Исследование деформаций образцов под микроскопом
Г. Микрокиносъемка
Д. Микроскопы с телевизионным экраном
Е. Интерференционный метод
Ж. Оттенение для увеличения контрастности
Глава 4. Количественная металлография
Дж. Р. Блэнк, Т. Гледман
I. Введение
II. Принципы количественной металлографии
А. Определение относительного содержания фаз
Б. Распределение частиц по размерам
В. Определение размера зерна
III. Практические методы количественной металлографии
А. Сравнительные методы
Б. Прямые количественные методы
В. Вычислительное устройство «Квантимет» для анализа
изображений
Глава 5. Рентгеноструктурный анализ
С. М. Митчелл
I. Введение
II. Техника рентгеновских исследований
А. Регистрация рентгеновского излучения
Б. Рентгеновская камера с плоской кассетой
В. Метод Лауэ
Г. Метод порошков
Д. Рентгеновские камеры с цилиндрической кассетой
Е. Промер рентгенограмм
Ж. Дифрактометр
3. Съемка образцов при высоких и низких температурах
И. Анализ распределения интенсивности лауэвской дифракционной картины
III. Анализ данных, получаемых в рентгеноструктурных исследованиях
А. Рассеяние рентгеновских лучей кристаллами
Б. Геометрия отражения
В. Радиальное распределение интенсивности отражения
Г. Интегральная интенсивность
Д. Радиальное распределение интенсивности отражения монокристалла
Е. Определение структорного фактора
Ж. Влияние поглощения
3. Нахождение истинной кривой распределения интенсивности отражения
IV. Измерение межплоскостных расстояний и прецизионное определение параметров кристаллической решетки
А. Определение параметров решетки
Б. Применение метода наименьших квадратов при определении параметров решетки
В. Измерение параметра решетки монокристалла
V. Количественный анализ
А. Относительные концентрации
Б. Весовая доля
В. Особенности эксперимента
VI. Качественный анализ
VII. Преимущественные ориентировки (текстуры)
А. Построение полюсных фигур
Б. Обратная полюсная фигура
В. Аналитическое построение распределения кристаллитов
VIII. Деформация кристаллической решетки
А. Анализ радиального распределения интенсивности отражения
Б. Определение величин областей когерентного рассеяния
В. Измерение эффектов пластической деформации
IX. Рентгеновские методы определения напряжений
А. Измерение поверхностных напряжений
Б. Измерение межплоскостных расстояний
В. Упругие константы
Г. Градуировочные кривые
Д. Остаточные напряжения
X. Рентгеновская топография
А. Метод Шульца
Б. Метод Берга-Барретта
В. Прямое наблюдение дислокаций
Рекомендуем
