- Артикул:00-01025669
- Автор: Иванова Т.А., Кирилловский В.К.
- Обложка: Твердая обложка
- Издательство: Машиностроение (все книги издательства)
- Город: Ленинград
- Страниц: 231
- Формат: 60х90 1/16
- Год: 1984
- Вес: 423 г
Развернуть ▼
В книге описаны методы проектирования оптических систем микроскопов, характеризующихся высоким качеством изображения - планахроматических и планапохроматических объективов, панкратических систем. Приведены результаты расчета этих систем, проанализирована точность изготовления их конструктивных элементов, дана оценка технологичности конструкций.
Рассмотрены приборы контроля оптических систем с применением лазерной и телевизионной техники.
Книга предназначена для ИТР, занимающихся разработкой и контролем оптических систем.
Оглавление
Предисловие
Введение
Часть I Проектирование оптики микроскопов
Глава I. Основные вопросы проектирования оптических систем микроскопов
1. Критерии коррекции объективов микроскопов
2. Оптические материалы с особым ходом дисперсии. Возможность исправления вторичного спектра в объективах микроскопов
3. Технологичность оптических систем
4. Анализ децентрировки в объективах микроскопов
Глава II. Базовые элементы объективов микроскопов
5. Анализ фронтальных элементов высокоапертурных объективов микроскопов
6. Расчет трехлинзовых склеенных компонентов с уменьшенным вторичным спектром
7. Оптимизация компонентов с большими компенсирующими аберрациями
8. Исследование коррекционных возможностей менисков конечной толщины
Глава III. Синтез оптических систем объективов микроскопов
9. Объективы для исследований в проходящем свете. Возможности повышения оптических характеристик
10. Объективы с плоским полем изображения. Планахроматические объективы с уменьшенным вторичным спектром
11. Планапохроматические объективы
12. Расчет рефлексов в объективах отраженного света
13. Оптимизация оптических конструкций объективов с уменьшенной вуалирующей засветкой
14. Расчет допусков на изготовление оптических элементов объективов
15. Оценка технологичности объективов микроскопов
Глава IV. Синтез оптических систем с переменными оптическими характеристиками
16. Свойства одиночного подвижного компонента
17. Определение гауссовых параметров трех компонентной панкратической системы типа «коллектив»
18. Определение гауссовых параметров панкратических оборачивающих систем
19. Коррекционные возможности панкратических систем симметричного типа
20. Синтез двух компонентных панкратических систем с механической компенсацией в параксиальной области
21. Оптимизация аберраций в панкратических системах с механической компенсацией
22. Анализ точности изготовления оптических элементов паикратических систем
23. Исследование бликов в панкратических системах микроскопов
Глава V. Проектирование оптики микроскопов на основе панкратических систем
24. Панкратические осветительные системы
25. Панкратические окуляры
26. Панкратические фотовизуальные насадки
Часть II Контроль и аттестация оптики микроскопов
Глава VI. Задачи контроля и аттестации оптики микроскопов
27. Коррекция объективов и задачи контроля
28. Требования к повышению объективности, точности и оперативности контроля оптики микроскопов и элементы автоматизации измерений
29. Контроль с применением аппаратуры автоматического считывания
изображений, научно-прикладной фотографии, телевидения и вычислительной техники
Глава VII. Контроль геометрических параметров микрооптики
30. Контроль формы поверхностен оптических деталей
31. Контроль формы поверхностей бесконтактными методами
32. Контроль центрировки
33. Контроль поверхностей склеенных компонентов в положении
наилучшей установки по виду искажений дифракционного кружка
34. Анализ точности центрировки склеенных компонентов микрообъективов. Возможности повышения точности центрировки в положении наилучшей установки
Глава VIII. Методы контроля качества изображения
35. Экспертный метод
36. Количественные методы оценки качества изображения оптики микроскопа
37. Исследование структуры пятна рассеяния. Фотоэлектрическое сканирование и фотографическая фотометрия
38. Изофотометрическая регистрация
39. Телевизионная изофотометрия, методы и аппаратура
40. Контроль качества изображения по функциям рассеяния линии и краевой
41. Телевизионный метод и аппаратура для контроля качества изображения по функции рассеяния линии
42. Контроль уровня рассеянного света
Глава IX. Приборы и методы контроля аберраций оптики микроскопов
43. Методы измерения волновых аберраций оптики микроскопов. Интерференционный контроль
44. Интерферометр с дифрагированной эталонной волной
45. Интерферометр с эталонной фронтальной поверхностью
46. Интерференционно-растровый метод контроля хроматизма и полевых аберраций микрооптики
47. Расширение возможностей интерференционного контроля, повышение точности расшифровки интерферограмм
48. Телевидение и видеозапись при интерференционном контроле. Автоматизация расшифровки интерферограмм
Приложение
Список литературы
Рекомендуем
