- Артикул:00-01117212
- Автор: Г. Ф. Косолапов
- Тираж: 8000 экз.
- Обложка: Твердая обложка
- Издательство: Высшая школа (все книги издательства)
- Город: Москва
- Страниц: 332
- Формат: 84х108 1/32
- Год: 1962
- Вес: 491 г
- Серия: Учебное пособие для ВУЗов (все товары серии)
Развернуть ▼
Репринтное издание
Книга посвящена основам рентгенографического метода исследования и его применению в науке и технике. В ней рассматриваются физические принципы получения рентгеновского излучения, методы регистрации и анализа рентгенограмм, а также практические аспекты рентгенографических исследований.
Издание предназначено для студентов, инженеров и специалистов, изучающих методы неразрушающего контроля и физику рентгеновского излучения.
Содержание
Глава I. Спектры рентгеновских лучей
§ 1. Измерение длины волн рентгеновских лучей
§ 2. Сплошной спектр рентгеновских лучей
§ 3. Характеристический спектр рентгеновских лучей
§ 4. Поглощение рентгеновских лучей
§ 5. Ослабление первичного рентгеновского излучения
Глава II. Аппаратура, применяемая при рентгеновском анализе
§ 1. Рентгеновские трубки
§ 2. Рентгеновские аппараты
§ 3. Методы измерения интенсивности рентгеновских лучей
Глава III. Элементы кристаллографии
§ 1. Кристаллические тела
§ 2. Атомная решетка
§ 3. Кристаллографические символы
§ 4. Некоторые кристаллографические формулы
§ 5. Симметрия кристаллов
§ 6. Несовершенства кристаллов
Глава IV. Интерференция рентгеновских лучей
§ 1. Рассеивание рентгеновских лучей электроном
§ 2. Рассеивание рентгеновских лучей атомом
§ 3. Рассеивание рентгеновских лучей кристаллической решеткой (монокристаллом)
§ 4. Интерференция в поликристаллических веществах
§ 5. Структурный фактор
§ 6. Тепловой фактор
§ 7. Фактор повторяемости
§ 8. Фактор Лоренца
§ 9. Фактор абсорбции
§ 10. Сводная формула интегральной интенсивности
Глава V. Основные методы исследования структуры
§ 1. Метод неподвижного монокристалла
§ 2. Метод вращающего (метод Лауэ) монокристалла
§ 3. Метод порошка
Глава VI. Изучение диаграммы состояния рентгеновским методом
§ 1. Определение границ фаз рентгеновским методом
§ 2. Определение природы фаз рентгеновским методом
Глава VII. Структура пластически деформированного и рекристаллизованного металла
§ 1. Структура пластически деформированного металла
§ 2. Рекристаллизация
Глава VIII. Определение остаточных напряжений рентгеновским методом
§ 1. Макронапряжения
§ 2. Микронапряжения
§ 3. Искажение атомной решетки
Глава IX. Рентгеновский анализ термически обработанной стали
§ 1. Структура закаленной стали
§ 2. Структура закаленной стали после отпуска
§ 3. Изотермический распад аустенита
Глава X. Рентгеновский анализ пересыщенных твердых растворов (старение сплавов)
§ 1. Рентгеновский анализ стадии выделения
§ 2. Рентгеновский анализ подготовительной стадии
Глава XI. Рентгеновский анализ структуры жидких металлов
§ 1. Первые опыты по исследованию жидких металлов
§ 2. Определение функций атомного распределения
§ 3. Структура жидких металлов и сплавов
Глава XII. Рентгенодефектоскопия
§ 1. Основы метода
§ 2. Факторы, влияющие на качество снимка
§ 3. Техника получения снимка
§ 4. Визуальный метод выявления дефектов
§ 5. Чувствительность рентгеновского метода
§ 6. Область применения рентгеновских лучей
§ 7. Гамма-дефектоскопия
§ 8. Микрорентгенография металлов
Глава XIII. Другие дифракционные методы исследования структуры
§ 1. Электронография
§ 2. Нейтронография
Литература