- Артикул:00-01109618
- Автор: О. П. Глудкин, В. Н. Черняев
- Обложка: Твердая обложка
- Издательство: Энергия (все книги издательства)
- Город: Москва
- Страниц: 360
- Формат: 84х108 1/32
- Год: 1980
- Вес: 583 г
- Серия: Учебное пособие для ВУЗов (все товары серии)
Развернуть ▼
В книге приведены сведения по основам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности. Предназначена в качестве учебного пособия для студентов вузов по специальностям 0604, 0629, 0648, 0705.
Содержание
Предисловие
Глава первая. Элементы теории и системы организации испытаний микроэлементов и интегральных микросхем
1.1. Введение
1.2. Математический аппарат для оценки надежности МЭ и ИМ
1.2.1.Основные понятия теории вероятностей
1.2.2.Статистический ряд и его характеристики
1.2.3.Основные законы распределения случайной величины
1.2.4.Критерий согласия экспериментального и теоретического законов распределения
1.3. Показатели надежности МЭ и ИМ
1.4. Классификация испытаний МЭ и ИМ в соответствии с действующими стандартами
1.5. Понятие о выборочном методе контроля и его основные характеристики
1.6. Риск поставщика и риск заказчика при выборочных методах контроля
1.7. Выбор нагрузки и допустимых пределов изменения параметров МЭ и ИМ при испытаниях
1.8. Организационная система контроля и испытаний
1.9. Экономические аспекты контроля и испытаний МЭ И ИМ
Глава вторая. Электрические параметры МЭ и ИМ и методы их измерения
2.1. Электрофизические свойства тонких слоев и методы их контроля
2.1.1.Параметры качества пленок металлов и сплавов
2.1.2.Основные параметры качества диэлектрических пленок
2.1.3.Основные параметры качества полупроводниковых слоев
2.2.Сиотемы измерения основных электрических параметров МЭ и ИМ
2.3. Основные методы измерения статических параметров
2.4. Основные методы измерения дифференциальных параметров
2.5. Основные методы измерения импульсных параметров
2.6. Основные методы измерения эквивалентных параметров
2.7. Шумовые характеристики полупроводниковых приборов и методы их измерения
2.8. Измерение, электрических параметров конденсаторов, резисторов, катушек индуктивностей
Глава третья. Методы неразрушающего контроля параметров МЭ и ИМ в процессе их изготовления и испытаний
3.1. Классификация и критерии отказов
3.2. Классификация методов неразрушающего контроля МЭ и ИМ
3.3. Оптические методы контроля
3.4. Радиационные методы контроля
3.5. Методы растровой электронной микроскопии
3.6. Тепловые методы контроля
3.7. Электрофизические методы контроля
3.8. Анализ отказов МЭ и ИМ по результатам измерений и контроля
3.9. Характерные виды отказов МЭ и ИМ
3.10. Выбор вида нагрузки при испытаниях МЭ и ИМ
Глава четвертая. Климатические испытания МЭ и ИМ
4.1. Влияние окружающей среды на МЭ и ИМ
4.2. Общая методология климатических испытаний
4.3. Виды климатических испытаний
4.4. Испытания на теплоустойчивость
4.5. Испытание на холодоустойчивость
4.6. Испытание на циклическое воздействие смены температур
4.7. Испытание на влагоустойчивость
4.8. Испытание на воздействие пониженного и повышенного атмосферного давления
4.9. Испытание на грибоустойчивость
4.10. Испытание на воздействие соляного тумана
Глава пятая. Механические испытания МЭ и ИМ
5.1. Влияние механических воздействий и виды механических испытаний МЭ и ИМ
5.2. Виды вибрации и определение вибрационных параметров МЭ и ИМ
5.3. Испытание на виброустойчнвость и вибропрочность
5.4. Оборудование для испытания на вибрационные нагрузки и методы крепления испытываемых изделий
5.5. Измерение параметров вибрации
5.6. Виды ударных нагрузок
5.7. Испытания на ударную прочность и устойчивость
5.8. Оборудование и приспособления для крепления изделий при проведении испытаний на ударные нагрузки
5.9. Измерение параметров ударного импульса
5.10. Испытание на воздействие линейных нагрузок
5.11. Испытание прочности выводов и их крепления
5.12. Последовательность проведения механических и климатических испытаний
Глава шестая. Радиационные испытания МЭ и ИМ
6.1. Виды и количественные характеристики радиоактивных излучений
6.2. Конструкция ускорителей и ядерных реакторов для испытаний МЭ и ИМ на воздействие радиации
6.3. Характерные изменения в структуре материалов, МЭ и ИМ при воздействии радиоактивного излучения
6.4. Методика испытаний МЭ и ИМ на радиационную стойкость и оценка результатов испытаний
6.5. Меры по охране труда при производстве радиационных испытаний
Глава седьмая. Методы испытаний МЭ и ИМ на надежность и сохраняемость
7.1. Классификация методов планирования испытаний МЭ и ИМ на надежность
7.1.1.Метод однократной выборки
7.1.2.Метод двукратной выборки
7.1.3.Метод непрерывных испытаний
7.1.4.Графический метод планирования испытаний
7.2. Выбор значений параметров критерия годности при испытании МЭ и ИМ на надежность
7.3. Испытания па долговечность и определение гамма-ресурса МЭ и ИМ
7.4. Граничные испытания МЭ и ИМ на надежность
7.5. Испытание МЭ и ИМ на длительное хранение
7.6. Натурные испытания МЭ и ИМ
Глава восьмая. Методы прогнозирования надежности МЭ и ИМ
8.1. Общие сведения о прогнозировании
8.2. Математические методы прогнозирования надежности
8.2.1.Детерминированные методы прогнозирования
8.2.2.Вероятностное прогнозирование
8.2.3.Прогнозирование надежности на основе методов распознавания образов
8.3. Физические методы прогнозирования надежности
8.4. Физико-статистические методы прогнозирования надежности
8.4.1.Общие сведения о физико-статистических методах прогнозирования надежности
8.4.2.Описание физико-статистической модели прогнозирования надежности
8.4.3.Фактор ускорения и способы приложения нагрузок при проведении ускоренных испытаний
Глава девятая. Обработка экспериментальных данных
9.1. Определение точности измерительных средств
9.2. Статистическая обработка экспериментальных данных
9.3. Графические методы представления экспериментальных данных
9 4. Определение законов распределения случайной величины по экспериментальным данным
Приложение
Список литературы
Предметный указатель
Рекомендуем
